Wichtig um eine gute Messung zu erhalten, sollte das Werkstück möglichst sauber sein und keine Gratbildung haben.
Dimensionsmesstechnik:
Profilproje...
The FT110 series is a standard and versatile machine for metal coating thickness analysis. Advanced function allows you to operate easily and efficien...
Das GCMS-QP2010 SE wurde mit dem Ziel entwickelt, dem Anwender ein vollausgestattetes System zur Verfügung zu stellen, das extrem einfach zu bedienen ...
Exzellente Bildqualität dank CeB6 Filament mit hoher Brillanz bei geringer Beschleunigungsspannung
Desktop-REM für große Proben bis 100 mm x 100mm, 6...
Sequentielle Analysentechnik hat traditionell eine große Verbreitung im Diagnostiklabor. Für die höheren Anforderungen im Lebensmittel-, Pharma- und U...
TOPOS Interferometrische Messsysteme für die berührungslose Ebenheitsprüfung von feinbearbeiteten Präzisionsteilen
TOPOS Interferometer arbeiten nach...
Das SPECTROLAB S Funkenspektrometer verfügt über das weltweit erste CMOS-basierte Detektorsystem, das für die High-End-Metallanalyse perfektioniert wu...
Schnellere Messergebnisse mit dem AFM der Tosca-Serie
Die Tosca-Serie kombiniert hochwertige Technologie auf einzigartige Weise mit Effizienz und ist...
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Die Tosca-Serie kombiniert hochwertige Technologie auf einzigartige Weise mit Effizienz und ist...
Das NexView optische 3D-Oberflächenprofilometer ermöglicht die Messung unterschiedlichster Oberflächen – von extrem glatten bis hin zu sehr rauen – mi...
DE-64331 Weiterstadt
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